產(chǎn)品特點(diǎn)
特性
●熒光壽命測量
測量激發(fā)態(tài)的弛豫過程
從有機(jī)材料或熒光探針獲得的熒光譜是一個(gè)至關(guān)重要的參數(shù)，可用于控制和評估材料的功能和特性，包括峰值波長和熒光強(qiáng)度等。然而，熒光譜通常顯示了時(shí)間積分信息，因此當(dāng)材料包含多種成分和反應(yīng)元素時(shí)，他們的熒光譜只能以綜合信息的形式獲得。這種情況下利用是時(shí)間軸參數(shù)來觀測發(fā)光的動(dòng)態(tài)過程成為一種有效的手段。這就是普遍的熒光壽命測量，被脈沖光激發(fā)的成分回到基態(tài)所需的時(shí)間在亞納秒到毫秒的范圍內(nèi)被測定。這種測量能夠獲得更多信息，包括同一波長下的多個(gè)熒光壽命以及他們在材料中存在的百分比等。
●簡潔而快速的測量
只需將樣品放置到樣品室并設(shè)定4個(gè)測量條件參數(shù)，發(fā)光時(shí)間就能簡潔而快速地測定。
●7個(gè)激發(fā)波長
280 nm, 340 nm, 365 nm, 405 nm, 470 nm, 590 nm, or 630 nm.
●能分析不同的樣品形式
薄膜、固體、溶液和粉末等
●波長范圍：300 nm—800 nm
●單光子計(jì)數(shù)法的高靈敏度測量
●優(yōu)于100 ns的時(shí)間分辨率（通過去卷積）
●溶液樣品的制冷功能（-196 °C，可選）
●磷光測量（可選）
●熒光各向異性的時(shí)間分辨測量
●熒光譜測量
●空間集約的緊湊型設(shè)計(jì)
量子效率和熒光壽命的關(guān)系
| 右圖的Jablonski能級圖描述了普通有機(jī)分子的電子能級，并標(biāo)示了能級間的電子躍遷。S0、S1和T1分別代表基態(tài)，最低單態(tài)和最低三重態(tài)。光激發(fā)后，激發(fā)態(tài)分子可以沿幾種躍遷路徑，包括輻射過程和非輻射過程而回到基態(tài)。輻射過程涉及了光發(fā)射，例如熒光和磷光。非輻射過程涉及內(nèi)轉(zhuǎn)換和系統(tǒng)間熱釋放。輻射過程和非輻射過程相互競爭。 |  |
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當(dāng)熒光速率常數(shù)、內(nèi)轉(zhuǎn)換和系統(tǒng)間交換分別用kf, kic, and kisc來簡寫時(shí)，熒光壽命Tf可以用下式表示：
Tf?= 1/ (kf?+ kic?+ kisc)??????? ?(1)
同時(shí)熒光量子效率Φf可以用下式表示：
Φf?= kf?/ (kf?+ kic?+ kisc)?????? (2)
因此等式（3）可以從等式（1）和（2）推導(dǎo)出：
kf?=?Φf?/ Tf?????????????? ?(3)
從以上的等式可以看出，熒光壽命和量子效率之間有密切的關(guān)系。這些參數(shù)在控制熒光材料的發(fā)光特性上有著基礎(chǔ)而重要的作用。
濱松集團(tuán)開發(fā)了Quantaurus系列用于不同的發(fā)光材料的評估?，F(xiàn)有的Quantaurus-Tau和Quantaurus-QY可分別用于測量熒光壽命和量子效率。這兩個(gè)系統(tǒng)的支持性分析可以推動(dòng)用戶對光致發(fā)光材料的開發(fā)。
您可以在下面的推薦產(chǎn)品區(qū)域獲取緊湊型熒光壽命光譜儀Quantaurus-QY的細(xì)節(jié)信息。
光譜響應(yīng)
應(yīng)用
熒光壽命測量具有多種應(yīng)用。典型的應(yīng)用包括有機(jī)-金屬化合物分子內(nèi)部或分子間的電子運(yùn)動(dòng)和能量轉(zhuǎn)移反應(yīng)，也包括有機(jī)EL器件開發(fā)所需基本材料的熒光和磷光壽命測量，熒光蛋白的FRET（fluorescence resonance energy transfer，熒光共振能量轉(zhuǎn)移）、太陽能電池和LED的復(fù)合半導(dǎo)體的通過/失敗測試等。
●有機(jī)-金屬化合物
●熒光探針
●染料敏化型PV材料
●OLED材料
●量子點(diǎn)
●LED熒光粉
測量流程圖
分析功能●多組分熒光壽命的分析和對比
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? ?多達(dá)五種組分的多組分分析功能 在熒光壽命測量中，被測數(shù)據(jù)往往是多組分熒光壽命的衰減曲線的總和。Quantaurus-Tau系統(tǒng)能簡潔地通過專用軟件計(jì)算熒光壽命數(shù)據(jù)和每一組分所占百分比。 ?去卷積實(shí)現(xiàn)高精度分析 去卷積處理使得熒光壽命分析具有高精度。當(dāng)分析壽命更長的組分比如磷光時(shí)，“Tail Fit”功能可以替代去卷積過程。 ?時(shí)間曲線和頻譜的實(shí)時(shí)顯示 時(shí)間曲線或頻譜可以在顯示屏上實(shí)時(shí)顯示。這個(gè)功能可以用于測量期間選擇時(shí)間標(biāo)度或選定分析數(shù)據(jù)區(qū)域。 |
●多樣品熒光壽命的分析和對比
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? ?同一屏幕的多個(gè)數(shù)據(jù)分析 計(jì)算后的熒光壽命數(shù)值被顯示在同一屏幕上易于對比分析。 ?同一擬合的對比 為了實(shí)現(xiàn)相同條件下的對比分析，Quantaurus-Tau是多個(gè)樣品設(shè)置采用了特定的擬合范圍、IRF（儀器響應(yīng)函數(shù)）和參數(shù)設(shè)置。 ?具有設(shè)置功能的圖形編輯 在對比分析界面下你能根據(jù)需要改變每個(gè)坐標(biāo)軸的范圍，以使數(shù)據(jù)能被編輯來滿足您的目的。這一特點(diǎn)也能根據(jù)需要實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的歸一化。 ?所需數(shù)據(jù)能以.txt形式保存 通過簡單的復(fù)制/粘貼操作，所需數(shù)據(jù)就能保存到圖形分析軟件中。 |
●多樣本光致發(fā)光譜的分析和對比
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? ?時(shí)間分辨型光譜顯示 時(shí)間分辨型光譜顯示了條紋相機(jī)系統(tǒng)的最大特點(diǎn) ?光譜和熒光衰減曲線的顯示 顯示每條曲線的半峰寬（FWHW）、峰位置和峰強(qiáng)度。 ?同一屏幕的多個(gè)數(shù)據(jù)加載和對比 歸一化處理使得多個(gè)數(shù)據(jù)分析變得簡單 |
技術(shù)參數(shù)
| 產(chǎn)品圖像 | 產(chǎn)品型號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 樣品 | 探測器類型 | 波長范圍 |
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C11367-11 | Quantaurus-Tau | 溶液 薄膜 | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 300 nm 到 800 nm |
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C11367-12 | Quantaurus-Tau | 溶液 薄膜 | 近紅外（NIR）型 | 380 nm 到 1030 nm |
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C11367-14 | Quantaurus-Tau | 固態(tài)（薄膜 粉末等） | 標(biāo)準(zhǔn)型 | 300 nm 到 800 nm |
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C11367-15 | Quantaurus-Tau | 固態(tài)（薄膜 粉末等） | 近紅外（NIR）型 | 380 nm 到 1030 nm |
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