光學(xué)膜厚儀
光學(xué)薄膜厚儀Delta系列
儀器簡(jiǎn)介
Delta薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)地：中國(guó)
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 波長(zhǎng)范圍：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta
儀器簡(jiǎn)介
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 產(chǎn)地：廣東
- 波長(zhǎng)范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm
TF200光學(xué)膜厚儀
儀器簡(jiǎn)介
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：Betop
- 型號(hào)：TF200
- 產(chǎn)地：中國(guó)
- 價(jià)格：面議