產(chǎn)品特點(diǎn)
懸臂梁與樣品的同時(shí)觀察有助于便捷的確定測試位置
WITec 的AFM物鏡允許從上方同時(shí)清楚的觀測到樣和懸臂梁，便于AFM的探針準(zhǔn)直與微小樣品結(jié)構(gòu)的定位。
（A）同時(shí)觀測探針懸臂梁與樣品
（B）光學(xué)圖像與AFM圖像的疊加（AFM圖像：AC模式，掃描范圍：3*3μm2）
（C）B 中AFM三維圖像
技術(shù)參數(shù)
AFM模式
接觸模式：
樣品掃描時(shí)域探針直接接觸，通過懸臂梁的傾斜及角度來記錄表面形貌。
AC（TappingTM 輕敲模式）
又稱間歇接觸式。懸臂梁以其共振頻率振動(dòng)，不與樣品接觸，該模式特別適用于易損樣品。當(dāng)探針接近樣品表面，樣品與探針的相互作用對懸臂梁施加力從而改變其振動(dòng)頻率。
抬高模式（Lift ModeTM）：
抬高模式可與接觸或者AC模式結(jié)合使用。樣品先通過其他的成像模式被掃描一次，然后使用抬高模式，在之前記錄的樣品輪廓基礎(chǔ)上，將探針與樣品保持一個(gè)恒定的距離在掃描一次。
數(shù)字脈沖力模式（DPFM）
磁力顯微鏡（MFM）
測量樣品上磁場的一種非接觸模式
靜電力顯微鏡
測量靜電力顯微鏡
記錄并描繪間歇（輕敲）
模式中的相位偏移型號(hào)
納米操縱/壓抑
開爾文探針顯微鏡
表面勢測量
橫向盧顯微鏡（LFM）
揭示表面摩擦特性的一種接觸模式
化學(xué)力顯微鏡
測量范德華力等化學(xué)相互作用的接觸或間歇模式
其他模式可選
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