返回列表頁(yè)
WITec alpha 300S掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（SNOM）
產(chǎn)品特點(diǎn)
關(guān)鍵特性：
突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率（橫向約 60 nm)
獨(dú)家專利的 SNOM 探針技術(shù)
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式
非破壞性、無(wú)需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備
可升級(jí)到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場(chǎng)拉曼成像
集成三種技術(shù)到一臺(tái)儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
技術(shù)參數(shù)
近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡分辨率:50nm
共聚焦拉曼顯微鏡分辨率：200nm
掃描臺(tái)掃描范圍：100*100*20μm
探測(cè)器：光電倍增管（PMT）或雪崩二極管（APD）
尊敬的客戶您好，
非常感謝您訪問(wèn)接觸角測(cè)量?jī)x_表界面張力儀__拉曼光譜儀__X射線衍射儀__X射線熒光光譜儀__納米粒度儀廠家-廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司官方網(wǎng)站，如果您有任何需求或者咨詢都可以留言告訴我們，我們的客服將會(huì)盡快給您回復(fù)。