掃描電子顯微鏡(SEM)/(EDS)）
賽默飛Phenom Pure 高性?xún)r(jià)比臺(tái)式掃描電鏡
儀器簡(jiǎn)介
Phenom Pure是一款使用高亮度CeB6燈絲的高性?xún)r(jià)比臺(tái)式掃描電鏡。觀察亞微米尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)，放大倍數(shù)要求在30000倍以下，您可以選擇Phenom Pure,他具有飛納系列全自動(dòng)操作、15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3年更換燈絲等特點(diǎn)，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適用于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿(mǎn)足需求的客戶(hù)。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號(hào)：Phenom Pure
- 價(jià)格：面議
- 產(chǎn)地：美國(guó)
賽默飛Phenom Pharos飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
儀器簡(jiǎn)介
秉承飛納臺(tái)式電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看絕緣體、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，經(jīng)過(guò)精心的設(shè)計(jì)，臺(tái)式掃描電鏡領(lǐng)軍制造商荷蘭 Phenom-World 公司推出了臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos，將臺(tái)式電鏡的分辨率提升至優(yōu)于 2.2nm。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號(hào)：Phenom Pharos
- 價(jià)格：面議
- 產(chǎn)地：美國(guó)
賽默飛Verios XHR 掃描電子顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介
Verios 是XHR（極高分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在尖端半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級(jí)分辨率以及增強(qiáng)的對(duì)比度，滿(mǎn)足材料精密測(cè)量所需，同時(shí)又不會(huì)削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢(shì)。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號(hào)：Verios XHR
- 價(jià)格：面議
- 產(chǎn)地：美國(guó)
賽默飛Apreo 掃描電子顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介
Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)，并且不會(huì)降低磁性樣品性能。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號(hào)：Apreo
- 價(jià)格：面議
- 產(chǎn)地：美國(guó)
賽默飛Quattro 環(huán)境掃描電子顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介
Quattro環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）是一款多功能，高性能儀器，配有場(chǎng)發(fā)射槍?zhuān)‵EG），具有出色的分辨率和射束電流穩(wěn)定性。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號(hào)：Quattro
- 價(jià)格：面議
- 產(chǎn)地：美國(guó)
賽默飛Prisma E 掃描電子顯微鏡
儀器簡(jiǎn)介
賽默飛Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型先進(jìn)的自動(dòng)化技術(shù)相結(jié)合，可提供同類(lèi)產(chǎn)品中完整的解決方案。
產(chǎn)品屬性
- 賽默飛Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型先進(jìn)的自動(dòng)化技術(shù)相結(jié)合，可提供同類(lèi)產(chǎn)品中完整的解決方案。
CSPM6000光學(xué)-原子力顯微鏡一體機(jī)產(chǎn)品方案
儀器簡(jiǎn)介
①*原子力顯微鏡(AFM)/摩擦力/橫向力顯微鏡（LFM）：橫向 0.2nm,垂直 0.03nm，包括接觸、輕敲、相移成像等多種工作模式，可實(shí)現(xiàn)力－距離曲線 、振幅－距離曲線、相位－距離曲線、振幅－頻率曲線、相位－頻率曲線等測(cè)量功能；摩擦力顯微鏡以及恒載荷、恒高工作模式，以及摩擦力回路曲線、摩擦力－載荷曲線等測(cè)量功能；
②*可擴(kuò)展納米加工（含圖形刻蝕、壓痕、矢量掃描等模式）、磁力/靜電力、液相、導(dǎo)電原子力、掃描探針聲學(xué)/壓電力顯微鏡功能；
③*探頭光路偏平設(shè)計(jì)，可擴(kuò)展光學(xué)和原子力顯微鏡同步成像功能。
②*可擴(kuò)展納米加工（含圖形刻蝕、壓痕、矢量掃描等模式）、磁力/靜電力、液相、導(dǎo)電原子力、掃描探針聲學(xué)/壓電力顯微鏡功能；
③*探頭光路偏平設(shè)計(jì)，可擴(kuò)展光學(xué)和原子力顯微鏡同步成像功能。
產(chǎn)品屬性
- 力檢測(cè)靈敏度：≤5pN
- 掃描角度：0～360°
- 掃描頻率：0.1～100Hz