橢圓偏振光譜儀
OPTM series 顯微分光膜厚儀
儀器簡介
使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：大塚電子
- 型號：OPTM series
- 產(chǎn)品：日本
- 價格：面議
FE-5000橢圓偏振光譜儀
儀器簡介
在高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之上，增加安裝了測量角度可自動變化裝置,可對應(yīng)所有種類的薄膜。在傳統(tǒng)旋轉(zhuǎn)分析儀法之上，通過安裝相位差板自動分離裝置，提高了測量精度。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：大塚電子
- 型號：FE-5000
- 產(chǎn)品：日本
- 價格：面議
SE-Mapping 光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，采用行業(yè)前沿**技術(shù)，配置全自動Mapping測量模塊，通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測量表征分析。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-Mapping
- 產(chǎn)品：中國
- 價格：面議
ME-L全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀
儀器簡介
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)的創(chuàng)新技術(shù)，具備：1.全穆勒矩陣測量技術(shù)，2.雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制技術(shù)，3.超級消色差補償器設(shè)計技術(shù)，4.納米光柵表征測量技術(shù)等技術(shù)。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：ME-L
- 產(chǎn)品：中國
- 價格：面議
SE-VE光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-VE 是一款超高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-VE
- 產(chǎn)品：中國
- 價格：面議
SE-VM光譜橢偏儀
儀器簡介
SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：頤光科技
- 型號：SE-VM
- 產(chǎn)品：中國
- 價格：面議