代理產(chǎn)品
克呂士MSA 便攜式接觸角測量儀
儀器簡介
MSA是一臺功能強大的儀器，用于預(yù)處理，涂覆或清潔的表面的質(zhì)量控制：MSA 便攜式接觸角測量儀通過表面自由能的自動且快速的方式測量潤濕性。 只需單擊一下，MSA即可同步滴加兩種液體，然后直接分析推導(dǎo)接觸角和表面自由的結(jié)果。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：克呂士/kruss
- 型號：MSA
- 產(chǎn)地：德國
- 價格：面議
布魯克DektakXT 探針式表面輪廓儀
儀器簡介
布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：DektakXT
- 產(chǎn)地：德國
- 價格：面議
布魯克Contour Elite I 三維光學(xué)顯微鏡
儀器簡介
布魯克Contour Elite I臺式電子輪廓儀是同類產(chǎn)品中的第一款，并配備有傾斜測量頭，可提供無限量規(guī)處理，按請求測量的可靠性以及研發(fā)和制造環(huán)境。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：Contour Elite I
- 產(chǎn)地：德國
- 價格：面議
布魯克ContourGT-I 三維光學(xué)顯微鏡
儀器簡介
ContourGT-I 三維光學(xué)顯微鏡集三十年表面測量之大成，將創(chuàng)新與工業(yè)界合作的經(jīng)驗集合到一臺桌面型系統(tǒng)上，實現(xiàn)面向生產(chǎn)自動化需要，測量角度靈活，的成像質(zhì)量，和已經(jīng)驗證的可定標(biāo)的穩(wěn)定測試性能。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：ContourGT-I
- 產(chǎn)地：德國
- 價格：面議
布魯克Contour Elite K 三維光學(xué)顯微鏡
儀器簡介
Contour Elite K 三維光學(xué)顯微鏡具有高穩(wěn)定性，具備一定防震性能設(shè)計的桌面式型號。布魯克Contour Elite?三維光學(xué)顯微鏡在已經(jīng)業(yè)界廣泛使用的技術(shù)領(lǐng)先的平臺上，進一步增強Vision64?軟件的用戶易用性，創(chuàng)新性加入全新的成像軟硬件，拓展高保真成像能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：Contour Elite K
- 產(chǎn)地：德國
- 價格：面議
布魯克ContourGT-K 三維光學(xué)顯微鏡
儀器簡介
ContourGT-K三維光學(xué)顯微鏡完善了表面測量和分析的新標(biāo)準(zhǔn)，這套測量系統(tǒng)擁有工業(yè)領(lǐng)先的測量性能和靈活性，采用專利白光干涉技術(shù)，超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有業(yè)界最高的垂直分辨率和測量重復(fù)性。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：布魯克
- 型號：ContourGT-K
- 產(chǎn)地：德國
- 價格：面議
賽默飛Phenom Pure 高性價比臺式掃描電鏡
儀器簡介
Phenom Pure是一款使用高亮度CeB6燈絲的高性價比臺式掃描電鏡。觀察亞微米尺度樣品的微觀結(jié)構(gòu)，放大倍數(shù)要求在30000倍以下，您可以選擇Phenom Pure,他具有飛納系列全自動操作、15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3年更換燈絲等特點，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選，也適用于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Phenom Pure
- 價格：面議
- 產(chǎn)地：美國
賽默飛Phenom Pharos飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡
儀器簡介
秉承飛納臺式電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看絕緣體、完全防震、性能穩(wěn)定的特點，經(jīng)過精心的設(shè)計，臺式掃描電鏡領(lǐng)軍制造商荷蘭 Phenom-World 公司推出了臺式場發(fā)射掃描電鏡 Phenom Pharos，將臺式電鏡的分辨率提升至優(yōu)于 2.2nm。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Phenom Pharos
- 價格：面議
- 產(chǎn)地：美國
賽默飛Verios XHR 掃描電子顯微鏡
儀器簡介
Verios 是XHR（極高分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在尖端半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Verios XHR
- 價格：面議
- 產(chǎn)地：美國
賽默飛Apreo 掃描電子顯微鏡
儀器簡介
Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：賽默飛
- 型號：Apreo
- 價格：面議
- 產(chǎn)地：美國